microscopio afm de forza atómica
Microscopio de forza atómica (AFM), un instrumento analítico que se pode usar para estudar a estrutura superficial de materiais sólidos, incluídos os illantes.Estuda a estrutura superficial e as propiedades dunha substancia detectando a interacción interatómica extremadamente débil entre a superficie da mostra que se vai probar e un elemento sensible ás microforzas.Será un par de forza débil extremadamente sensible micro-cantilever fin fixo, o outro extremo da pequena punta preto da mostra, entón vai interactuar con el, a forza fará a deformación micro-cantilever ou cambios de estado de movemento.Ao escanear a mostra, o sensor pódese usar para detectar estes cambios, podemos obter a distribución da información de forza, para obter a morfoloxía da superficie da información de nanorresolución e a información da rugosidade da superficie.
★ A sonda de dixitalización integrada e o cérvido de mostra melloraron a capacidade anti-interferencia.
★ O láser de precisión e o dispositivo de posicionamento da sonda fan que cambiar a sonda e axustar o punto sexa sinxelo e cómodo.
★ Ao usar a sonda de mostra de forma achegada, a agulla podería ser perpendicular á exploración da mostra.
★ Aproximación vertical da sonda de mostra de control do motor de pulso automático para conseguir un posicionamento preciso da área de dixitalización.
★ Área de dixitalización de mostras de interese podería moverse libremente usando o deseño dun dispositivo móbil de mostra de alta precisión.
★ O sistema de observación CCD con posicionamento óptico consegue a observación e o posicionamento en tempo real da área de exploración da mostra da sonda.
★ O deseño do sistema de control electrónico de modularización facilitou o mantemento e a mellora continua do circuíto.
★ A integración do circuíto de control de modo de dixitalización múltiple, coopera co sistema de software.
★ suspensión de resorte que simple e práctica mellora a capacidade anti-interferencia.
| Modo de traballo | Tapping FM, contacto opcional, fricción, fase, magnético o electrostático |
| Tamaño | Φ≤90 mm,H ≤ 20 mm |
| Rango de exploración | 20 mmmin dirección XY,2 mm en dirección Z. |
| Resolución de escaneo | 0,2 nm en dirección XY,0,05 nm en dirección Z |
| Rango de movemento da mostra | ± 6,5 mm |
| O ancho de pulso do motor achégase | 10 ± 2 ms |
| Punto de mostraxe da imaxe | 256×256,512 × 512 |
| Aumento óptico | 4X |
| Resolución óptica | 2,5 mm |
| Taxa de escaneo | 0,6 Hz ~ 4,34 Hz |
| Ángulo de exploración | 0°~360° |
| Control de dixitalización | D/A de 18 bits en dirección XY,D/A de 16 bits en dirección Z |
| Mostraxe de datos | 14-bitA/D,mostraxe síncrona multicanal A/D dobre de 16 bits |
| Comentarios | Feedback dixital DSP |
| Taxa de mostraxe de feedback | 64,0 kHz |
| Interface de ordenador | USB 2.0 |
| Entorno operativo | Windows 98/2000/XP/7/8 |