Marca: NANBEI
Modelo: AFM
Microscopio de forza atómica (AFM), un instrumento analítico que se pode usar para estudar a estrutura superficial de materiais sólidos, incluídos os illantes.Estuda a estrutura superficial e as propiedades dunha substancia detectando a interacción interatómica extremadamente débil entre a superficie da mostra que se vai probar e un elemento sensible ás microforzas.