Espectrómetro de fluorescencia de raios X
Oficina de Calidade e Supervisión Técnica (Directiva Ambiental)
RoHS/Rohs (China)/ELF/EN71
Xoguete
Papel, cerámica, pintura, metal, etc.
Materiais eléctricos e electrónicos
Semicondutores, materiais magnéticos, soldadura, pezas electrónicas, etc.
Aceiro, metais non férreos
Aliaxes, metais preciosos, escouras, mineral, etc.
industria química
Produtos minerais, fibras químicas, catalizadores, revestimentos, pinturas, cosméticos, etc.
ambiente
Solo, alimentos, residuos industriais, carbón en po
Aceite
Aceite, aceite lubricante, aceite pesado, polímero, etc.
outra
Medición de espesores de revestimentos, carbón, arqueoloxía, investigación de materiais e forense, etc.
● Tres tipos diferentes de sistemas de seguridade de radiación de raios X, bloqueos de software, bloqueos de hardware e bloqueos mecánicos, eliminarán completamente as fugas de radiación en calquera condición de traballo.
● O XD-8010 presenta un camiño óptico de deseño exclusivo que minimiza as distancias entre a fonte de raios X, a mostra e o detector, mantendo a flexibilidade para cambiar entre unha variedade de filtros e colimadores.Isto mellora significativamente a sensibilidade e reduce o límite de detección.
● A cámara de mostras de gran volume permite analizar directamente mostras grandes sen necesidade de danos nin de tratamento previo.
● Análise sinxela cun só botón mediante unha interface de software cómoda e intuitiva.Non se require formación profesional para realizar o funcionamento básico do instrumento.
● O XD-8010 ofrece unha rápida análise elemental de elementos de S a U, con tempos de análise axustables.
● Ata 15 combinacións de filtros e colimadores.Están dispoñibles filtros de varios grosores e materiais, así como colimadores que van desde Φ1 mm ata Φ7 mm.
● A poderosa función de formato de informes permite a personalización flexible dos informes de análise xerados automaticamente.Os informes xerados pódense gardar en formatos PDF e Excel.Os datos da análise gárdanse automaticamente despois de cada análise. Pódese acceder aos datos históricos e ás estatísticas en calquera momento desde unha sinxela interface de consulta.
● Usando a cámara de mostra do instrumento, pode observar a posición da mostra en relación ao foco da fonte de raios X.As imaxes da mostra tómanse cando comeza a análise e pódense mostrar no informe de análise.
● A ferramenta de comparación de espectros do software é útil para a análise cualitativa e a identificación e comparación de materiais.
● Mediante o uso de métodos probados e eficaces de análise cualitativa e cuantitativa, pódese asegurar a precisión dos resultados.
● A función de axuste da curva de calibración aberta e flexible é útil para unha variedade de aplicacións, como a detección de substancias nocivas.
Método de análise de elementos nocivos
| Substancias perigosas | Exemplo | |
| Análise de selección | Análise detallada | |
| Hg | Espectroscopia de raios X | AAS |
| Pb | ||
| Cd | ||
| Cr6 + | Espectroscopia de raios X (Análise do Cr total) | Cromatografía iónica |
| PBB/PBDE | Espectroscopia de raios X (Análise de Br total) | GC-MS |
Proceso de xestión da calidade
Medición de oligoelementos nocivos en mostras de polietileno, como Cr, Br, Cd, Hg e Pb.
• A diferenza de valores dados e os valores reais de Cr, Br, Cd, Hg e Pb.
A diferenza dos valores dados e os valores reais de Cr, (unidade: ppm)
| Mostra | Valor dado | Valor real (XD-8010) |
| En branco | 0 | 0 |
| Mostra 1 | 97.3 | 97.4 |
| Mostra 2 | 288 | 309,8 |
| Mostra 3 | 1122 | 1107.6 |
A diferenza dos valores dados e os valores reais de Br, (unidade: ppm)
| Mostra | Valor dado | Valor real (XD-8010) |
| En branco | 0 | 0 |
| Mostra 1 | 90 | 89.7 |
| Mostra 2 | 280 | 281.3 |
| Mostra 3 | 1116 | 1114.1 |
A diferenza de valores dados e os valores reais de Cd, (unidade: ppm)
| Mostra | Valor dado | Valor real (XD-8010) |
| En branco | 0 | 0 |
| Mostra 1 | 8.7 | 9.8 |
| Mostra 2 | 26.7 | 23.8 |
| Mostra 3 | 107 | 107.5 |
A diferenza entre os valores dados e os valores reais og Hg, (unidade: ppm)
| Mostra | Valor dado | Valor real (XD-8010) |
| En branco | 0 | 0 |
| Mostra 1 | 91.5 | 87.5 |
| Mostra 2 | 271 | 283,5 |
| Mostra 3 | 1096 | 1089,5 |
A diferenza de valores dados e os valores reais de Pb, (unidade: ppm)
| Mostra | Valor dado | Valor real (XD-8010) |
| En branco | 0 | 0 |
| Mostra 1 | 93.1 | 91.4 |
| Mostra 2 | 276 | 283,9 |
| Mostra 3 | 1122 | 1120.3 |
Os datos de medición repetida da mostra 3 Cr1122ppm, Br116ppm, Cd10ppm, Hg1096ppm, Pb1122ppm (unidade: ppm)
| Cr | Br | Cd | Hg | Pb | |
| 1 | 1128.7 | 1118.9 | 110.4 | 1079,5 | 1109.4 |
| 2 | 1126.2 | 1119.5 | 110.8 | 1072.4 | 1131.8 |
| 3 | 1111.5 | 1115.5 | 115.8 | 1068.9 | 1099,5 |
| 4 | 1122.1 | 1119.9 | 110.3 | 1086.0 | 1103.0 |
| 5 | 1115.6 | 1123.6 | 103.9 | 1080.7 | 1114.8 |
| 6 | 1136.6 | 1113.2 | 101.2 | 1068,8 | 1103.6 |
| 7 | 1129,5 | 1112.4 | 105.3 | 1079,0 | 1108.0 |
| Media | 1124.3 | 1117.6 | 108.2 | 1076,5 | 1110.0 |
| Desviación estándar | 8.61 | 4.03 | 4,99 | 6.54 | 10.82 |
| RSD | 0,77 % | 0,36 % | 4,62 % | 0,61 % | 0,98 % |
Filtro secundario para elemento Pb (Mostras de substrato de aceiro), Mostra: Aceiro (Pb 113 ppm)
1.A radiación de raios X do tubo de raios X primario irradiase a través dun colimador ata a mostra.
2.Características de excitación de raios X primarios dos elementos contidos na mostra. Os raios X a través do colimador secundario no detector
3.Procesado a través do detector, formando datos de espectroscopia de fluorescencia
4.Complétase a análise de datos de espectroscopia por ordenador, a análise cualitativa e cuantitativa
| Modelo | NB-8010 | |
| Análise principio | Fluorescencia de raios X con dispersión de enerxía análise | |
| Gama de elementos | S (16) | |
| Mostra | Plástico / metal / película / sólido / líquido/po, etc., de calquera tamaño e forma irregular | |
| Tubo de raios X | Obxectivo | Mo |
| Tensión do tubo | (5-50) kV | |
| Corrente de tubo | (10-1000) e outros | |
| Irradiación da mostra diámetro | F1mm-F7mm | |
| Filtro | 15 conxuntos de filtros compostos son seleccionado automaticamente e a conversión automática | |
| Detector | Importacións dos Estados Unidos Detector Si-PIN | |
| O tratamento de datos placa de circuíto | Importacións dos Estados Unidos, con o uso de conxuntos de detectores Si-PIN | |
| Mostra observación | Con cámara CCD de 300.000 píxeles | |
| A cámara de mostras tamaño | 490 (L)´430 (W)´150 (H) | |
| Método de análise | Lineal lineal, cuadrática Liñas de código, corrección de calibración de forza e concentración | |
| Sistema operativo software | Windows XP, Windows 7 | |
| Xestión de datos | Xestión de datos de Excel, informes de proba, Formato PDF/Excel gardado | |
| Traballando ambiente | Temperatura: 30 €°C. Humidade £ 70 % | |
| Peso | 55 kg | |
| Dimensións | 550´450´395 | |
| Fonte de alimentación | AC220V±10%, 50/60Hz | |
| Determinación condicións | Ambiente atmosférico | |